供應(yīng)商	北京瑞科中儀科技有限公司店鋪
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關(guān)鍵詞	ZEISS掃描顯微鏡,掃描顯微鏡代理商,金山掃描顯微鏡,卡爾蔡司掃描顯微鏡
所在地	北京市海淀區(qū)建材城西路50號2號樓3層031室

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

配合不同探測器的選擇，使Sigma 廣泛地適用于您的應(yīng)用：無論是正在開發(fā)的新材料、用于質(zhì)量檢查的顆粒還是生物或地質(zhì)標(biāo)本，該電鏡可助您研究各種樣品。在極端條件下，利用可變壓力（VP）成像，借助NanoVPlite，即使在低電壓下，也能在非導(dǎo)體上獲得出色的圖像和分析結(jié)果。

STEM探測器和經(jīng)典的極靴下背散射電子探測器類似，一般也采用半導(dǎo)體材質(zhì)，并分割為好幾塊，
其中一塊位于樣品的正下方，主要用于接收正透過樣品的透射電子，即所謂的明場模式；還有的位于明場探測器的周圍，接收經(jīng)過散射的透射電子，即所謂的暗場模式。

掃描電鏡及X射線能譜儀或電子探針為準(zhǔn)確鑒定鋼中非金屬夾雜物屬性提供了非?？煽康募夹g(shù)，他可以將D類等非金屬夾雜物的二維和三維形貌、與所含元素的X射線元素面分布圖、與其內(nèi)含有元素或所含簡單氧化物的重量百分?jǐn)?shù)和原子百分?jǐn)?shù)定量分析結(jié)果有機結(jié)合起來，對這種D類非金屬夾雜物給出一個全新的詮釋。由此，作者提出了非金屬夾雜物的相結(jié)構(gòu)概念，用“復(fù)相夾雜物”代替目前常用的“復(fù)雜夾雜物”或“復(fù)合夾雜物”，重新認(rèn)識這個對鋼性能有重要影響的D類非金屬夾雜物，與業(yè)界同行商榷。

指出，復(fù)雜氧化物、復(fù)雜夾雜物、復(fù)雜化合物中用“復(fù)雜”來形容D類非金屬夾雜物不科學(xué)，“復(fù)雜”常被用來形容社會科學(xué)和人類生活的難易程度，很少用在術(shù)語的描述，用他形容這種D類非金屬夾雜物的復(fù)雜程度即抽象又不確切，不能給出形貌和數(shù)據(jù)的概念；第二，叫復(fù)合夾雜物也值得商榷，“復(fù)合”是一種攙和的意思，復(fù)合夾雜物是一種混合物的概念，混合物帶有機械混合之意，混合物內(nèi)各組元的分布無規(guī)律；第三，叫復(fù)雜化合物也不妥，化合物是純凈物，由不同種元素組成的純凈物叫做化合物，并可以用一種化學(xué)式表示，而混合物則不是，也沒有化學(xué)式。

激光掃描共聚焦顯微鏡是在傳統(tǒng)熒光顯微鏡成像的基礎(chǔ)上采用激光作為光源，通過使用激光掃描裝置和共軛聚焦裝置，利用計算機對所觀察的對象進(jìn)行數(shù)字圖像處理的現(xiàn)代化光學(xué)顯微鏡。它能以的分辨率采集細(xì)胞或組織內(nèi)部的熒光標(biāo)記圖像、觀察細(xì)胞或組織內(nèi)部的微細(xì)結(jié)構(gòu)和形態(tài)學(xué)變化、在亞細(xì)胞水平觀察胞內(nèi)重要離子濃度或 pH 的變化、結(jié)合電生理技術(shù)觀察和記錄細(xì)胞的生理活動。使用激光掃描共聚焦顯微鏡，還可以對觀察樣品進(jìn)行斷層掃描和成像、重構(gòu)和分析細(xì)胞的三維空間結(jié)構(gòu)。

使用全新樣品定位方法創(chuàng)建多視角（ Multiview）數(shù)據(jù)
使用折射率 n=1.38 的 Scale 介質(zhì)（Hama 等，Nat Neurosci 期刊，2011 年），或折射率 n=1.45 的水性澄清液（例如：CelExplorer Labs 公司生產(chǎn)的 FocusClear? 產(chǎn)品）進(jìn)行透明處理的組織來完成實驗
使用可選的觸發(fā)界面維持生理條件，充分發(fā)揮成像信息和環(huán)境條件控制兩者相結(jié)合的優(yōu)勢
光透技術(shù)

組織透明處理技術(shù)能夠讓您深入大型生物樣品內(nèi)，例如：組織切片、大腦、胚胎、器官球狀體或活組織切片。您可以使用增強的光學(xué)穿透深度來捕獲整個器官的熒光信號。這也令其成為一項具有發(fā)展前景的技術(shù)，例如：檢測小鼠大腦神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)。

電子經(jīng)過一系列電磁透鏡成束后，打到樣品上與樣品相互作用，會產(chǎn)生二次電子、背散射電子、俄歇電子以及X射線等一系列信號。所以需要不同的探測器譬如二次電子探測器、X射線能譜分析儀等來區(qū)分這些信號以獲得所需要的信息。雖然X射線信號不能用于成象，但習(xí)慣上，仍然將X射線分析系統(tǒng)劃分到成象系統(tǒng)中。
有些探測器造價昂貴，比如Robinsons式背散射電子探測器，這時，可以使用二次電子探測器代替，但需要設(shè)定一個偏壓電場以篩除二次電子。

掃描電子顯微鏡是利用材料表面微區(qū)的特征（如形貌、原子序數(shù)、化學(xué)成分、或晶體結(jié)構(gòu)等）的差異，在電子束作用下通過試樣不同區(qū)域產(chǎn)生不同的亮度差異，從而獲得具有一定襯度的圖像。成像信號是二次電子、背散射電子或吸收電子，其中二次電子是主要的成像信號[2]。圖3為其成像原理圖，高能電子束轟擊樣品表面，激發(fā)出樣品表面的各種物理信號，再利用不同的信號探測器接受物理信號轉(zhuǎn)換成圖像信息。