供應(yīng)商	北京瑞科中儀科技有限公司店鋪
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關(guān)鍵詞	卡爾蔡司掃描顯微鏡,掃描顯微鏡市場(chǎng),靜安掃描顯微鏡,掃描顯微鏡生產(chǎn)廠家
所在地	北京市海淀區(qū)建材城西路50號(hào)2號(hào)樓3層031室

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

掃描電鏡圖像的形成需要各個(gè)系統(tǒng)相互配合，電子光學(xué)系統(tǒng)為掃描電鏡提供的電子束，信號(hào)探測(cè)系統(tǒng)將電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)進(jìn)行采集與處理。電子光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)容請(qǐng)參考往期文章，本篇主要對(duì)掃描電鏡的信號(hào)探測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行介紹。

掃描電鏡可以采集多種不同類型的信號(hào)用于成像和分析，其中二次電子(SE)和背散射電子(BSE)信號(hào)是基本也是常見的兩種信號(hào)類型。
不同廠家和型號(hào)的電鏡在采集SE，BSE信號(hào)時(shí)所用的探測(cè)器都具有各自特的技術(shù)，但旁置式二次電子探測(cè)器和極靴下背散射電子探測(cè)器在架構(gòu)和工作原理方面相對(duì)固定，應(yīng)用也很廣泛，因此本文只會(huì)對(duì)旁置式二次電子探測(cè)器和極靴下背散射電子探測(cè)器進(jìn)行介紹。

STEM探測(cè)器和經(jīng)典的極靴下背散射電子探測(cè)器類似，一般也采用半導(dǎo)體材質(zhì)，并分割為好幾塊，
其中一塊位于樣品的正下方，主要用于接收正透過樣品的透射電子，即所謂的明場(chǎng)模式；還有的位于明場(chǎng)探測(cè)器的周圍，接收經(jīng)過散射的透射電子，即所謂的暗場(chǎng)模式。

掃描電鏡及X射線能譜儀或電子探針為準(zhǔn)確鑒定鋼中非金屬夾雜物屬性提供了非?？煽康募夹g(shù)，他可以將D類等非金屬夾雜物的二維和三維形貌、與所含元素的X射線元素面分布圖、與其內(nèi)含有元素或所含簡(jiǎn)單氧化物的重量百分?jǐn)?shù)和原子百分?jǐn)?shù)定量分析結(jié)果有機(jī)結(jié)合起來(lái)，對(duì)這種D類非金屬夾雜物給出一個(gè)全新的詮釋。由此，作者提出了非金屬夾雜物的相結(jié)構(gòu)概念，用“復(fù)相夾雜物”代替目前常用的“復(fù)雜夾雜物”或“復(fù)合夾雜物”，重新認(rèn)識(shí)這個(gè)對(duì)鋼性能有重要影響的D類非金屬夾雜物，與業(yè)界同行商榷。

指出，復(fù)雜氧化物、復(fù)雜夾雜物、復(fù)雜化合物中用“復(fù)雜”來(lái)形容D類非金屬夾雜物不科學(xué)，“復(fù)雜”常被用來(lái)形容社會(huì)科學(xué)和人類生活的難易程度，很少用在術(shù)語(yǔ)的描述，用他形容這種D類非金屬夾雜物的復(fù)雜程度即抽象又不確切，不能給出形貌和數(shù)據(jù)的概念；第二，叫復(fù)合夾雜物也值得商榷，“復(fù)合”是一種攙和的意思，復(fù)合夾雜物是一種混合物的概念，混合物帶有機(jī)械混合之意，混合物內(nèi)各組元的分布無(wú)規(guī)律；第三，叫復(fù)雜化合物也不妥，化合物是純凈物，由不同種元素組成的純凈物叫做化合物，并可以用一種化學(xué)式表示，而混合物則不是，也沒有化學(xué)式。

蔡司熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SIGMA 500采用Gemini電子束非交叉光路設(shè)計(jì)，突破了傳統(tǒng)設(shè)計(jì)中電子束交叉三次造成能量擴(kuò)散的限制。束流適中，大大降低了色差對(duì)成像質(zhì)量的影響。鏡頭鏡筒內(nèi)置電子束加速器，無(wú)需切換減速模式即可實(shí)現(xiàn)的低電壓成像。低20V可成像，樣品類型不受限制。透鏡鏡筒物鏡采用靜電透鏡和電磁透鏡相結(jié)合的方式，在工作距離范圍內(nèi)沒有磁場(chǎng)，可在高倍率下觀察磁性材料。環(huán)形二次電子探測(cè)器In-Lens安裝在鏡筒的正光路上。圓柱形一體化超大樣品室配備5軸全自動(dòng)中心樣品臺(tái)，可容納直徑250mm的超大樣品。同一品牌的電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡可以組合觀察(可選)，只有一個(gè)通用的樣品架和配套的軟件是Shuttle&Find，可以充分發(fā)揮光鏡和電子鏡各自的優(yōu)勢(shì)

蔡司 Lightsheet Z.1 恰恰能實(shí)現(xiàn)這一切。的多視角激光片層掃描顯微成像系統(tǒng)（Light Sheet Microscopy）能夠記錄大型活體樣品的發(fā)育過程，對(duì)樣品低損傷地成像，提供更多的信息。
成像速度極快：Lightsheet Z.1 是一款能以極快速度獲取光學(xué)切片的顯微工具，可讓您以亞細(xì)胞分辨率獲得完整的樣品圖像，耗時(shí)卻遠(yuǎn)少于采用其它技術(shù)所需的時(shí)間。

掃描電子顯微鏡是利用材料表面微區(qū)的特征（如形貌、原子序數(shù)、化學(xué)成分、或晶體結(jié)構(gòu)等）的差異，在電子束作用下通過試樣不同區(qū)域產(chǎn)生不同的亮度差異，從而獲得具有一定襯度的圖像。成像信號(hào)是二次電子、背散射電子或吸收電子，其中二次電子是主要的成像信號(hào)[2]。圖3為其成像原理圖，高能電子束轟擊樣品表面，激發(fā)出樣品表面的各種物理信號(hào)，再利用不同的信號(hào)探測(cè)器接受物理信號(hào)轉(zhuǎn)換成圖像信息。

掃描電鏡是一種多功能的儀器、具有很多的性能、是用途為廣泛的一種儀器．它可以進(jìn)行如下基本分析：?
1、觀察納米材料
：
其具有很高的分辨率，可以觀察組成材料的顆?；蛭⒕С叽缭?.1-100nm范圍內(nèi)，在保持表面潔凈的條件下加壓成型而得到的固體材料。
2、材料斷口的分析：
其景深大，圖象富立體感，具有三維形態(tài)，能夠從斷口形貌呈現(xiàn)材料斷裂的本質(zhì)，在材料斷裂原因的分析、事故原因的分析以及工藝合理性的判定等方面是一個(gè)強(qiáng)有力的手段。?
3、直接觀察大試樣的原始表面：
它能夠直接觀察直徑100mm，高50mm，或更大尺寸的試樣，對(duì)試樣的形狀沒有任何限制，粗糙表面也能觀察，這便免除了制備樣品的麻煩，而且能真實(shí)觀察試樣本身物質(zhì)成分不同的襯度（背散射電子象）。
4、觀察厚試樣：
其在觀察厚試樣時(shí)，能得到高的分辨率和真實(shí)的形貌。
5、觀察試樣的各個(gè)區(qū)域的細(xì)節(jié)：
試樣在樣品室中可動(dòng)的范圍非常大，可以在三度空間內(nèi)有6個(gè)自由度運(yùn)動(dòng)（即三度空間平移、三度空間旋轉(zhuǎn)），這對(duì)觀察不規(guī)則形狀試樣的各個(gè)區(qū)域帶來(lái)的方便。
6、在大視場(chǎng)、低放大倍數(shù)下觀察樣品，用掃描電鏡觀察試樣的視場(chǎng)大：
大視場(chǎng)、低倍數(shù)觀察樣品的形貌對(duì)有些領(lǐng)域是很必要的，如刑事偵察和考古。?
7、進(jìn)行從高倍到低倍的連續(xù)觀察：
掃描電鏡的放大倍數(shù)范圍很寬（從5到20萬(wàn)倍連續(xù)可調(diào)），且一次聚焦好后即可從高倍到低倍、從低倍到高倍連續(xù)觀察，不用重新聚焦，這對(duì)進(jìn)行分析特別方便。?
8、觀察生物試樣：
由于電子照射面發(fā)生試樣的損傷和污染程度很小，這一點(diǎn)對(duì)觀察一些生物試樣特別重要。?
9、進(jìn)行動(dòng)態(tài)觀察：
如果在樣品室內(nèi)裝有加熱、冷卻、彎曲、拉伸和離子刻蝕等附件，則可以觀察相變、斷烈等動(dòng)態(tài)的變化過程。?
10、從試樣表面形貌獲得多方面資料：
因?yàn)閽呙桦娮酉蟛皇峭瑫r(shí)記錄的，它是分解為近百萬(wàn)個(gè)逐次依此記錄構(gòu)成的。使得掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進(jìn)行成分和元素的分析，以及通過電子通道花樣進(jìn)行結(jié)晶學(xué)分析，選區(qū)尺寸可以從10μm到3μm。?
由于掃描電鏡具有上述特點(diǎn)和功能，所以越來(lái)越受到科研人員的重視，用途日益廣泛。現(xiàn)在掃描電鏡已廣泛用于材料科學(xué)（金屬材料、非金屬材料、納米材料）、冶金、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體材料與器件、地質(zhì)勘探、病蟲害的防治、災(zāi)害（火災(zāi)、失效分析）鑒定、刑事偵察、寶石鑒定、工業(yè)生產(chǎn)中的產(chǎn)品質(zhì)量鑒定及生產(chǎn)工藝控制等。
設(shè)備廠家
德國(guó)蔡司、日本電子、日立、FEI等
測(cè)試機(jī)構(gòu)
各大高校、科研院所等
疑難解答
1、樣品導(dǎo)電性不好的話，對(duì)成像會(huì)有什么影響？
樣品導(dǎo)電性不好會(huì)產(chǎn)生放電現(xiàn)象（也有人叫荷電現(xiàn)象）。像會(huì)有很亮很亮地方出現(xiàn)。解決辦法：減低加速電壓，用BSE探頭，或者低真空[A10]?。
2、加高壓及關(guān)高壓后放氣各有什么主意事項(xiàng)呢?
加高壓般要達(dá)到額定真空，否則氣體電離度大、損傷電子槍，但是電鏡軟件一般都已經(jīng)設(shè)置好，不到工作真空，根本加不上去高壓，所以只要能夠加高壓，也無(wú)其他特別的問題;做完電鏡關(guān)閉高壓，等30秒以上，待燈絲冷卻后再放氣為宜，主要也是為了保護(hù)電子槍。
3、SEM升樣品臺(tái)有什么主意事項(xiàng)呢?
樣品臺(tái)有它的額定移動(dòng)距離，包括平面方向和上下方向，平面方向移動(dòng)到極會(huì)有報(bào)警提示，看到提示往回移動(dòng)即可。高度方向也如此，但是要注意向上移動(dòng)時(shí)，要緩慢，要防止堅(jiān)硬的試樣撞擊上方的探測(cè)器和極靴，損壞設(shè)備