掃描電鏡可以采集多種不同類型的信號用于成像和分析，其中二次電子(SE)和背散射電子(BSE)信號是基本也是常見的兩種信號類型。
不同廠家和型號的電鏡在采集SE，BSE信號時所用的探測器都具有各自特的技術(shù)，但旁置式二次電子探測器和極靴下背散射電子探測器在架構(gòu)和工作原理方面相對固定，應(yīng)用也很廣泛，因此本文只會對旁置式二次電子探測器和極靴下背散射電子探測器進(jìn)行介紹。

STEM探測器和經(jīng)典的極靴下背散射電子探測器類似，一般也采用半導(dǎo)體材質(zhì)，并分割為好幾塊，
其中一塊位于樣品的正下方，主要用于接收正透過樣品的透射電子，即所謂的明場模式；還有的位于明場探測器的周圍，接收經(jīng)過散射的透射電子，即所謂的暗場模式。

使用全新樣品定位方法創(chuàng)建多視角（ Multiview） 數(shù)據(jù)
使用折射率 n=1.38 的 Scale 介質(zhì)（Hama 等，Nat Neurosci 期刊，2011 年），或折射率 n=1.45 的水性澄清液（例如：CelExplorer Labs 公司生產(chǎn)的 FocusClear? 產(chǎn)品）進(jìn)行透明處理的組織來完成實(shí)驗(yàn)
使用可選的觸發(fā)界面維持生理條件，充分發(fā)揮成像信息和環(huán)境條件控制兩者相結(jié)合的優(yōu)勢
光透技術(shù)

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