內(nèi)容簡(jiǎn)介
連接器IO強(qiáng)度耐久測(cè)試機(jī)同時(shí)也叫IO強(qiáng)度測(cè)試機(jī)。其開發(fā)原因是:連接器的插口,在插入成品如手機(jī),電腦,家用電器里面以后,使用過程中用戶在插拔時(shí)不會(huì)標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)其進(jìn)行平行插入或拔出,插拔過程中會(huì)產(chǎn)生四個(gè)方向的力值。這就需要開發(fā)一臺(tái)此類設(shè)備進(jìn)行測(cè)試其四個(gè)方向受力的壽命強(qiáng)度測(cè)試。驗(yàn)證其壽命后,與PCB的焊接是否松脫,連接器內(nèi)部是否損壞等。
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