X熒光光譜儀的優(yōu)勢(shì)：
1、制樣簡(jiǎn)單：通常情況下是物理制樣。試樣經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單的破碎、研磨成粉末壓片或熔融制成；
2、分析范圍廣：理論上從元素Be到92號(hào)元素鈾均可進(jìn)行分析；
3、測(cè)量范圍寬：從0.001%到均可進(jìn)行分析。

X熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)：
1、分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘*可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素；
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定；
3、非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好；
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析；
5、分析精密度高；
6、制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

x熒光光譜儀介紹
x熒光光譜儀樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
（1）固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品包括各種礦產(chǎn)品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
（3）液體樣品油類產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過(guò)化學(xué)方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等。

受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。

x熒光光譜儀1．分析原理：能量色散X射線熒光分析法
2．分析元素：K～U任意元素,鉛（Pb）、（Hg）、六價(jià)鉻（Cr6+）、
（PBB）和醚（PBDE）中的溴
3．工作條件：工作溫度：10-30℃相對(duì)濕度：≤70%
電源：AC220V±10%、50/60Hz
4．技術(shù)指標(biāo)新高靈敏度探測(cè)器（分辨率達(dá)149Ev），精密的放大電路，
提高Cd、Pb元素的靈度。
檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀
樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
小樣品腔尺寸：300×300×100mm
大樣品腔尺寸：樣品尺寸不受限制
X射線管：材/Mo管電壓/5～50kV管電流/大1～1000μA
照射直徑：2、5、8mm
探測(cè)器：Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測(cè)器
濾光片：八種新型濾光片自動(dòng)選擇
樣品定位：微動(dòng)載物平臺(tái)（選配）
樣品觀察：130萬(wàn)分辨率彩色CCD攝像機(jī)
微區(qū)分析：X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配）軟件
定量分析：理論Alpha

性能
具有MSBUS總線的智能電池、實(shí)時(shí)監(jiān)控電池、備用電池可直接查看電池剩余容量。用戶可自定義創(chuàng)建報(bào)告：包括公司標(biāo)志、公司地址、檢測(cè)結(jié)果、光譜譜圖及其他樣品信息（如產(chǎn)品描述、產(chǎn)地、批號(hào)等）。內(nèi)置DoubleBeam ?技術(shù)自動(dòng)感知儀器前方有無(wú)樣品，提高射線的安全性和防護(hù)等級(jí)。且自動(dòng)根據(jù)外部環(huán)境亮度調(diào)節(jié)顯示器亮度。可將設(shè)備聯(lián)入互聯(lián)網(wǎng)，可遠(yuǎn)程對(duì)儀器進(jìn)行設(shè)置及檢修。